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Inna Skvortsova, SEMI HQ

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SEMIは、2020年11月9日~11日にテキサス州オースティンで開催されるUltrapure Micro(UPM)カンファレンスで、最先端の半導体製造向けの初となるCMP(Chemical Mechanical Planarization)測定規格(一式)の発表を予定しています。

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